Pan Y., Guan M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, tapes, cycling, loads, mechanical properties, fatigue behavior, crack formation, microstructure, measurement setup, tensile tests, stress effects, degradation studies, critical current, damage mechanisms
J Low Temperature Physics, 2022, v.207, N 1-2, p.97-114
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.